Рентгенофлуоресцентен анализ

  • Печат

  XRF (рентгенова флуоресценция) е недеструктивна аналитична техника, използвана за определяне на елементния състав на материалите. Химичният състав на пробата се определя чрез измерване на флуоресцентен (или вторичен) рентгенов лъч, излъчван от проба, при възбуждането й от първичен източник на рентгенови лъчи. Всеки от елементите, присъстващи в пробата, произвежда набор от характерни флуоресцентни рентгенови лъчи ("пръстов отпечатък"), който е уникален за всеки специфичен елемент, поради което XRF спектроскопията е отлична технология за качествен и количествен анализ на различни материали.

WDXRF (Wave-dispersive x-ray fluorescence) Spectrometer Rigaku Supermini 200

Features:

  • Analyze fluorine through uranium (F → U)
  • Analyze: solids, liquids, powders, alloys and thin films
  • Atmosphere: vacuum
  • X-ray tube: 50 kV, 200 W Pd-anode
  • Primary beam filter: Zr is standard; Al optional
  • Detectors: F-PC and scintillation
  • Crystals: 3-position changer
  • Autosampler: 12-position standard
  • Vacuum: rotary pump standard
  • Power: 100 – 120V (50/60 Hz) 15A or 200 – 240V (50/60 Hz) 10A